From d6a514a7a52daa53ba108a3ff59517c47af15ff5 Mon Sep 17 00:00:00 2001 From: =?UTF-8?q?St=C3=A9phan=20Peccini?= Date: Thu, 1 May 2025 09:08:51 +0200 Subject: [PATCH] =?UTF-8?q?Actualiser=20Documents/Criticit=C3=A9s/Fiche=20?= =?UTF-8?q?technique=20ICS.md?= MIME-Version: 1.0 Content-Type: text/plain; charset=UTF-8 Content-Transfer-Encoding: 8bit --- Documents/Criticités/Fiche technique ICS.md | 8 +------- 1 file changed, 1 insertion(+), 7 deletions(-) diff --git a/Documents/Criticités/Fiche technique ICS.md b/Documents/Criticités/Fiche technique ICS.md index f8e6f44..18609b5 100644 --- a/Documents/Criticités/Fiche technique ICS.md +++ b/Documents/Criticités/Fiche technique ICS.md @@ -26,7 +26,7 @@ La criticité a pour objectif de pondérer une part de marché qui se trouve sur La déclinaison de cette méthode par relation donnée ci-dessous se base sur des sources, mais aussi sur des estimations qui resteront à vérifier. ---- +# Criticité par couple Composant -> Minerai ## Audio -> Antimoine - Coefficient: 0.6 @@ -4024,8 +4024,6 @@ La déclinaison de cette méthode par relation donnée ci-dessous se base sur de ### Sources - [4] - Techniques de l'Ingénieur. (n.d.).["Le tantale, un élément exceptionnel mais controversé."](), ---- - # Criticité spécifique ## Semiconducteur → Creuset Quartz – Coefficient : **0.74** @@ -4130,12 +4128,8 @@ La déclinaison de cette méthode par relation donnée ci-dessous se base sur de 4. Raabe et al., *J. Crystal Growth* – « Réduction contamination C par revêtements SiC sur creuset »([ScienceDirect](https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0022024816308703?utm_source=chatgpt.com)) 5. SGL Carbon – « Graphite indispensable zones chaudes croissance SiC, Sapphire, Si »([sglcarbon.com](https://www.sglcarbon.com/en/markets-solutions/applications/semiconductor-crystal-growth/)) ---- - # Criticité par minerai ---- - ## Aluminium | | CarteMere | Connectivite | DisqueDur | EcranLCD |